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地籍测量学(第二版)
名       称：

地籍测量学(第二版) 

作       者：

詹长根 唐祥云 刘丽 

出  版 社：

武汉大学出版社 

  I S B N：

9787307045736 

出版日期：

2005年06月 

定价：

￥22.00

售价：

￥5.90

VIP价：

￥5.60

团购价：

￥5.90

优惠活动：

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