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数字系统测试与可测试设计
名       称：

数字系统测试与可测试设计 

作       者：

（美）阿布拉莫韦奇 李华伟 

出  版 社：

机械工业出版社 

  I S B N：

9787111192374 

出版日期：

2006年08月 

定价：

￥56.00

售价：

￥22.40

VIP价：

￥21.20

团购价：

￥17.90

优惠活动：

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