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公差与技术测量(第二版)
名       称：

公差与技术测量(第二版) 

作       者：

周勤芳 

出  版 社：

上海交通大学出版社 

  I S B N：

9787313026187 

出版日期：

2004年08月 

定价：

￥21.00

售价：

￥4.00

VIP价：

￥3.80

团购价：

￥3.20

优惠活动：

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