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VLSI测试方法学和可测设计
名       称：

VLSI测试方法学和可测设计 

作       者：

雷绍充 

出  版 社：

电子工业出版社 

  I S B N：

9787121003790 

出版日期：

2005年01月 

定价：

￥29.80

售价：

￥11.90

VIP价：

￥11.30

团购价：

￥9.50

优惠活动：

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