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电子元器件可靠性实验工程
名       称：

电子元器件可靠性实验工程 

作       者：

罗雯 魏建中 阳辉 

出  版 社：

电子工业出版社 

  I S B N：

9787121009655 

出版日期：

2005年03月 

定价：

￥58.00

售价：

￥23.20

VIP价：

￥22.00

团购价：

￥18.60

优惠活动：

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