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现代测试技术基础
名       称：

现代测试技术基础 

作       者：

李世平 戴凡 

出  版 社：

陕西科学技术出版社 

  I S B N：

9787536941526 

出版日期：

2006年01月 

定价：

￥28.00

售价：

￥11.20

VIP价：

￥10.60

团购价：

￥9.00

优惠活动：

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