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半导体测试技术原理与应用
名       称：

半导体测试技术原理与应用 

作       者：

刘新福 杜占平 李为民 

出  版 社：

冶金工业出版社 

  I S B N：

9787502441012 

出版日期：

2007年01月 

定价：

￥28.00

售价：

￥11.70

VIP价：

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