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数字逻辑电路测试与设计
名       称：

数字逻辑电路测试与设计 

作       者：

李玲 

出  版 社：

机械工业出版社 

  I S B N：

9787111270249 

出版日期：

2009年07月 

定价：

￥27.00

售价：

￥5.00

VIP价：

￥4.80

团购价：

￥5.00

优惠活动：

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