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微电子计量测试技术
名       称：

微电子计量测试技术 

作       者：

沈森祖 韩红星 

出  版 社：

西北工业大学出版社 

  I S B N：

9787561225165 

出版日期：

2009年01月 

定价：

￥30.00

售价：

￥12.00

VIP价：

￥11.40

团购价：

￥12.00

优惠活动：

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