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互换性与技术测量基础
名       称：

互换性与技术测量基础 

作       者：

柳晖 

出  版 社：

华东理工大学出版社 

  I S B N：

9787562818120 

出版日期：

2006年01月 

定价：

￥25.00

售价：

￥10.00

VIP价：

￥9.50

团购价：

￥10.00

优惠活动：

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