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现代集成电路测试技术
名       称：

现代集成电路测试技术 

作       者：

时万春 

出  版 社：

化学工业出版社 

  I S B N：

9787502581312 

出版日期：

2006年01月 

定价：

￥95.00

售价：

￥38.00

VIP价：

￥36.10

团购价：

￥38.00

优惠活动：

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