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半导体材料测试与分析
名       称：

半导体材料测试与分析 

作       者：

杨德仁 

出  版 社：

科学出版社 

  I S B N：

9787030270368 

出版日期：

2010年04月 

定价：

￥78.00

售价：

￥30.30

VIP价：

￥28.80

团购价：

￥24.20

优惠活动：

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