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电子元器件失效分析与典型案例
名       称：

电子元器件失效分析与典型案例 

作       者：

孔学东 恩云飞 

出  版 社：

国防工业出版社 

  I S B N：

9787118046199 

出版日期：

2006年09月 

定价：

￥150.00

售价：

￥60.00

VIP价：

￥57.00

团购价：

￥48.00

优惠活动：

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