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软件缺陷模式与测试
名       称：

软件缺陷模式与测试 

作       者：

宫云战 

出  版 社：

科学出版社 

  I S B N：

9787030317261 

出版日期：

2011年07月 

定价：

￥56.00

售价：

￥22.40

VIP价：

￥21.20

团购价：

￥17.90

优惠活动：

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