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互换性与技术测量
名       称：

互换性与技术测量 

作       者：

李蓓智 

出  版 社：

华中科技大学出版社 

  I S B N：

9787560967035 

出版日期：

2011年06月 

定价：

￥33.60

售价：

￥9.00

VIP价：

￥8.60

团购价：

￥9.00

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