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纳米数字集成电路老化效应——分析、预测及优化
名       称：

纳米数字集成电路老化效应——分析、预测及优化 

作       者：

 

出  版 社：

清华大学出版社 

  I S B N：

9787302285434 

出版日期：

2012年06月 

定价：

￥21.00

售价：

￥8.40

VIP价：

￥7.90

团购价：

￥6.70

优惠活动：

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