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互换性与技术测量
名       称：

互换性与技术测量 

作       者：

杨好学 

出  版 社：

西安电子科技大学出版社 

  I S B N：

9787560630588 

出版日期：

2013年06月 

定价：

￥27.00

售价：

￥4.60

VIP价：

￥4.40

团购价：

￥4.60

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