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地籍测量学.第二版
名       称：

地籍测量学.第二版 

作       者：

詹长根,唐祥云,刘丽 编著 

出  版 社：

武汉大学出版社 

  I S B N：

9787307045736 

出版日期：

2009年01月 

定价：

￥22.00

售价：

￥4.40

VIP价：

￥4.10

团购价：

￥3.50

优惠活动：

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