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互换性与技术测量基础
名       称：

互换性与技术测量基础 

作       者：

刘宁 陈云 周杰 

出  版 社：

国防工业出版社 

  I S B N：

9787118088823 

出版日期：

2013年08月 

定价：

￥29.00

售价：

￥8.80

VIP价：

￥8.40

团购价：

￥8.80

优惠活动：

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