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电子元器件可靠性设计
名       称：

电子元器件可靠性设计 

作       者：

王蕴辉 于宗光 孙再吉 

出  版 社：

科学出版社 

  I S B N：

9787030196385 

出版日期：

2007年09月 

定价：

￥49.90

售价：

￥17.50

VIP价：

￥16.60

团购价：

￥17.50

优惠活动：

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