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半导体集成电路的可靠性及评价方法
名       称：

半导体集成电路的可靠性及评价方法 

作       者：

章晓文 

出  版 社：

电子工业出版社 

  I S B N：

9787121271601 

出版日期：

2015年10月 

定价：

￥88.00

售价：

￥34.80

VIP价：

￥33.10

团购价：

￥34.80

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