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大气中子在先进存储器件中引起的软错误
名       称：

大气中子在先进存储器件中引起的软错误 

作       者：

中村刚史 

出  版 社：

国防工业出版社 

  I S B N：

9787118102840 

出版日期：

2015年10月 

定价：

￥89.00

售价：

￥35.60

VIP价：

￥33.80

团购价：

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优惠活动：

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