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电子元器件失效分析技术
名       称：

电子元器件失效分析技术 

作       者：

恩云飞 

出  版 社：

电子工业出版社 

  I S B N：

9787121272301 

出版日期：

2015年10月 

定价：

￥98.00

售价：

￥39.80

VIP价：

￥37.80

团购价：

￥39.80

优惠活动：

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