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半导体光谱测试方法与技术
名       称：

半导体光谱测试方法与技术 

作       者：

张永刚 

出  版 社：

科学出版社 

  I S B N：

9787030472229 

出版日期：

2016年01月 

定价：

￥128.00

售价：

￥39.90

VIP价：

￥37.90

团购价：

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优惠活动：

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