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互换性与技术测量
名       称：

互换性与技术测量 

作       者：

茅健 

出  版 社：

西安电子科技大学出版社 

  I S B N：

9787560643885 

出版日期：

2017年04月 

定价：

￥26.00

售价：

￥5.60

VIP价：

￥5.30

团购价：

￥4.50

优惠活动：

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