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微纳米MOS器件可靠性与失效机理
名       称：

微纳米MOS器件可靠性与失效机理 

作       者：

郝跃 刘红侠 

出  版 社：

科学出版社 

  I S B N：

9787030205865 

出版日期：

2008年03月 

定价：

￥78.00

售价：

￥31.20

VIP价：

￥29.60

团购价：

￥31.20

优惠活动：

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