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互换性与技术测量基础(王莉静,郝龙主编)
名       称：

互换性与技术测量基础(王莉静,郝龙主编) 

作       者：

王莉静 郝 龙 吴金文 

出  版 社：

华中科技大学出版社 

  I S B N：

9787568059763 

出版日期：

2020年04月 

定价：

￥38.00

售价：

￥9.60

VIP价：

￥9.10

团购价：

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