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SiC/GaN功率半导体封装和可靠性评估技术
名       称：

SiC/GaN功率半导体封装和可靠性评估技术 

作       者：

菅沼 克昭 

出  版 社：

机械工业出版社 

  I S B N：

9787111669531 

出版日期：

2021年01月 

定价：

￥89.00

售价：

￥35.60

VIP价：

￥33.80

团购价：

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