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集成电路芯片测试技术
名       称：

集成电路芯片测试技术 

作       者：

居水荣 

出  版 社：

西安电子科技大学出版社 

  I S B N：

9787560659541 

出版日期：

2021年03月 

定价：

￥35.00

售价：

￥9.00

VIP价：

￥8.60

团购价：

￥7.20

优惠活动：

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