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随钻方位成像电阻率测井技术
名       称：

随钻方位成像电阻率测井技术 

作       者：

倪卫宁，李新，孙伟峰 

出  版 社：

科学出版社 

  I S B N：

9787030654939 

出版日期：

2021年02月 

定价：

￥238.00

售价：

￥95.20

VIP价：

￥90.40

团购价：

￥76.20

优惠活动：

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