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高速电路研发与设计典型故障案例解析 一板成功
名       称：

高速电路研发与设计典型故障案例解析 一板成功 

作       者：

张晶威 

出  版 社：

清华大学出版社 

  I S B N：

9787302589235 

出版日期：

2022年01月 

定价：

￥39.00

售价：

￥15.60

VIP价：

￥14.80

团购价：

￥15.60

优惠活动：

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