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高速数字接口与光电测试
名       称：

高速数字接口与光电测试 

作       者：

李凯 

出  版 社：

清华大学出版社 

  I S B N：

9787302590408 

出版日期：

2022年01月 

定价：

￥178.00

售价：

￥71.20

VIP价：

￥67.60

团购价：

￥57.00

优惠活动：

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