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集成电路测试技术
名       称：

集成电路测试技术 

作       者：

武乾文 

出  版 社：

电子工业出版社 

  I S B N：

9787121443510 

出版日期：

2022年10月 

定价：

￥128.00

售价：

￥37.90

VIP价：

￥36.00

团购价：

￥37.90

优惠活动：

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