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先进集成电路电磁兼容测试与建模
名       称：

先进集成电路电磁兼容测试与建模 

作       者：

亚历山大?博耶，艾?西加 著，吴建飞，李彬鸿，王蒙军，郑亦菲 译 

出  版 社：

国防工业出版社 

  I S B N：

9787118126075 

出版日期：

2022年10月 

定价：

￥128.00

售价：

￥51.20

VIP价：

￥48.60

团购价：

￥41.00

优惠活动：

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