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片上系统测试设计与优化
名       称：

片上系统测试设计与优化 

作       者：

(瑞典)埃里克·拉森著；孙仁杰译 

出  版 社：

科学出版社 

  I S B N：

9787030769183 

出版日期：

2023年11月 

定价：

￥88.00

售价：

￥35.20

VIP价：

￥33.40

团购价：

￥28.20

优惠活动：

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