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晶体结构与缺陷的电子显微分析实验案例
名       称：

晶体结构与缺陷的电子显微分析实验案例 

作       者：

马秀良 

出  版 社：

高等教育出版社 

  I S B N：

9787040610963 

出版日期：

2024年01月 

定价：

￥149.00

售价：

￥59.60

VIP价：

￥56.60

团购价：

￥47.70

优惠活动：

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