![图解入门——半导体器件缺陷与失效分析技术精讲 [日]可靠性技术丛书编辑委员会](https://img7.youlu.net/bookpic/l/411/4922411a0bae9.jpg-n)
名 称：
图解入门——半导体器件缺陷与失效分析技术精讲 [日]可靠性技术丛书编辑委员会
作 者：
出 版 社：
I S B N：
9787111749622
出版日期：
2024年03月
定价：
￥99.00
售价：
￥39.60
优惠活动：
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