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内部残余应力全貌测试技术--轮廓法
名       称：

内部残余应力全貌测试技术--轮廓法 

作       者：

刘川 

出  版 社：

科学出版社 

  I S B N：

9787030777775 

出版日期：

2024年03月 

定价：

￥149.00

售价：

￥59.60

VIP价：

￥56.60

团购价：

￥47.70

优惠活动：

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