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数字集成电路测试——理论、方法与实践
名       称：

数字集成电路测试——理论、方法与实践 

作       者：

李华伟、郑武东、温晓青、赖李洋、叶靖、李晓维 

出  版 社：

清华大学出版社 

  I S B N：

9787302662037 

出版日期：

2024年06月 

定价：

￥79.00

售价：

￥24.90

VIP价：

￥23.70

团购价：

￥24.90

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