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内存漏洞验证与可利用性评估技术
名       称：

内存漏洞验证与可利用性评估技术 

作       者：

张志杰,许奇臻,魏浩来,朱顺痣,何原荣 

出  版 社：

厦门大学出版社 

  I S B N：

9787577600772 

出版日期：

1900年01月 

定价：

￥69.00

售价：

￥27.60

VIP价：

￥26.20

团购价：

￥27.60

优惠活动：

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