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集成电路可靠性设计与评价
名       称：

集成电路可靠性设计与评价 

作       者：

主编 尤政 副主编 缪向水 雷鑑铭 

出  版 社：

高等教育出版社 

  I S B N：

9787040653687 

出版日期：

2026年03月 

定价：

￥86.00

售价：

￥34.40

VIP价：

￥32.70

团购价：

￥34.40

优惠活动：

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