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超大规模集成电路测试:数字、存储器和混合信号系统——国外电子与通信教材系列
作       者:

(美)布什内尔(Bushnell M.L.) 蒋安平 

出  版 社:

电子工业出版社 

  I S B N:

9787121014901 

出版日期:

2005年08月 

定       价:

￥58.00

售       价:

￥124.50

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