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互换性与技术测量基础(王莉静,郝龙主编)
作       者:

王莉静 郝 龙 吴金文 

出  版 社:

华中科技大学出版社 

  I S B N:

9787568059763 

出版日期:

2020年04月 

定       价:

¥38.00

售       价:

¥30.80

数       量:

+ 库存5

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